Language:
繁體中文
English
日文
說明(常見問題)
南開科技大學
圖書館首頁
編目中圖書申請
登入
回首頁
(回前一個查詢頁籤)
[ subject:"奈米技術" ]
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
奈米科技與檢測技術
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:
彭國勝,
其他作者:
王振宇,
其他作者:
羅慧娟,
出版地:
新竹市
出版者:
工業技術研究院量測技術發展中心;
出版年:
民92
版本:
初版
面頁冊數:
[11],217面 : 圖,表格 ; 26公分
標題:
奈米技術 -
附註:
部份內容中英對照
附註:
含參考書目及索引
ISBN:
957-774-602-0
奈米科技與檢測技術
奈米科技與檢測技術
/ 彭國勝,王振宇, 羅慧娟執行編輯 - 初版. - 新竹市 : 工業技術研究院量測技術發展中心, 民92. - [11],217面 ; 圖,表格 ; 26公分.
部份內容中英對照含參考書目及索引.
ISBN 957-774-602-0
奈米技術
彭, 國勝
奈米科技與檢測技術
LDR
:00612cam 2200205 450
001
72544
009
00082599
010
0
$a
957-774-602-0
$b
平裝
$d
NT600
100
$a
20040901d2003 k y0chiy08 e
101
0
$a
chi
$a
eng
102
$a
tw
105
$a
a a 001yd
200
1
$a
奈米科技與檢測技術
$f
彭國勝,王振宇, 羅慧娟執行編輯
205
$a
初版
210
$a
新竹市
$c
工業技術研究院量測技術發展中心
$d
民92
215
0
$a
[11],217面
$c
圖,表格
$d
26公分
300
$a
部份內容中英對照
300
$a
含參考書目及索引
606
$a
奈米技術
$2
csh
$3
66747
681
$a
440.7
$b
4267
702
1
$a
彭
$b
國勝
$3
80287
702
1
$a
王
$b
振宇
$3
80288
702
1
$a
羅
$b
慧娟
$3
80289
801
0
$a
tw
$b
南開
$c
20040901
$g
CCR
$m
4
801
1
$a
tw
$b
南開
$c
20040901
$g
CCR
$m
4
0 筆讀者評論
館藏地:
全部
三樓書庫
出版年:
卷號:
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
備註欄
附件
108514
三樓書庫
一般借閱
圖書
440.7 4267 92
一般(Normal)
在架
0
5030000-0930026
134455
三樓書庫
一般借閱
圖書
440.7 4267 92 c.2
一般(Normal)
在架
0
5030000-0930024
2 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
建立或儲存個人書籤
書目轉出
取書館別
處理中
...
變更密碼
登入