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高科技檢測設備之研究 = A study of the high technology inspection and test equipment
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
A study of the high technology inspection and test equipment
作者:
張振堶,
出版地:
新竹縣竹東鎮
出版者:
工研院經資中心出版; 經濟部技術處發行;
出版年:
2003[民92]
版本:
初版
面頁冊數:
[297]面 : 圖,表格 ; 30公分
集叢名:
經濟部產業技術資訊服務推廣計畫ITRIEK-0453-S210(92)
標題:
科技業 -
附註:
含參考書目及索引
附註:
附錄:1,半導體&LCD檢測設備調查問卷;2,半導體&LCD檢測設備調查使用者回卷名單;3,半導體&LCD檢測設備調查供應商回卷名單
ISBN:
957-774-561-X
高科技檢測設備之研究 = A study of the high technology inspection and test equipment
張, 振堶
高科技檢測設備之研究
= A study of the high technology inspection and test equipment / 張振堶等作 - 初版. - 新竹縣竹東鎮 : 工研院經資中心出版, 2003[民92]. - [297]面 ; 圖,表格 ; 30公分. - (經濟部產業技術資訊服務推廣計畫 ; ITRIEK-0453-S210(92)).
含參考書目及索引附錄:1,半導體&LCD檢測設備調查問卷;2,半導體&LCD檢測設備調查使用者回卷名單;3,半導體&LCD檢測設備調查供應商回卷名單.
ISBN 957-774-561-X
科技業
高科技檢測設備之研究 = A study of the high technology inspection and test equipment
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全部
三樓書庫
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館藏
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