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高科技檢測設備之研究 = A study of the high technology inspection and test equipment

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	A study of the high technology inspection and test equipment
Author:	張振堶,
Place of Publication:	新竹縣竹東鎮
Published:	工研院經資中心出版; 經濟部技術處發行;
Year of Publication:	2003[民92]
Edition:	初版
Description:	[297]面 : 圖,表格 ; 30公分
Series:	經濟部產業技術資訊服務推廣計畫ITRIEK-0453-S210(92)
Subject:	科技業 -
Notes:	含參考書目及索引
Notes:	附錄:1,半導體&LCD檢測設備調查問卷;2,半導體&LCD檢測設備調查使用者回卷名單;3,半導體&LCD檢測設備調查供應商回卷名單
ISBN:	957-774-561-X

高科技檢測設備之研究 = A study of the high technology inspection and test equipment
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225 1 $a 經濟部科技專案成果
300 $a 含參考書目及索引
300 $a 附錄:1,半導體&LCD檢測設備調查問卷;2,半導體&LCD檢測設備調查使用者回卷名單;3,半導體&LCD檢測設備調查供應商回卷名單
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