• EMC電磁相容測試與對策技術
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    譯自: Testing for EMC compliance
    作者: Montrose,Mark I.,
    其他作者: Nakauchi,Edward M.,
    其他作者: 姚啟元,
    出版地: 臺北市
    出版者: 全華科技;
    出版年: 2005[民94]
    版本: 初版
    面頁冊數: 1冊 : 圖 ; 23公分
    標題: 電磁學 -
    附註: 含參考書目及索引
    ISBN: 957-21-4952-0
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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176659 三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books) 一般借閱 圖書 338.1 M813 94 一般(Normal) 在架 0 5030000-0940053
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