南開科技大學圖書館 |

Language: 繁體中文

說明(常見問題)

南開科技大學

圖書館首頁

編目中圖書申請

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

現代物理測試技術

~

梁志德

現代物理測試技術

紀錄類型:	書目-電子資源 : 單行本
作者:	梁志德
合作者:	王福
出版地:	北京
出版者:	冶金工業出版社;
出版年:	2003
標題:	測試技術 - 教材 - 高等教育 -
電子資源:	中華數字書苑--點擊此處查看電子書全文
附註:	普通高等教育“九五”國家級重點教材
附註:	需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
摘要註:	本書介紹了材料的物理測試技術中廣泛應用的X射線衍射分析、透射電鏡分析以及掃描電鏡及其EBSP分析、中子衍射分析和正受關注的某些表面分析技術。各章後附有適量的習題。
ISBN:	7502431861

現代物理測試技術
梁志德

現代物理測試技術 [電子資源] / 梁志德,王福主編 - 北京 : 冶金工業出版社, 2003.
普通高等教育“九五”國家級重點教材需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書.
ISBN 7502431861
測試技術 -- 教材 -- 高等教育

王福

現代物理測試技術
LDR:00983clm0 22002173 450 001 1000045085
005 20170807114030.0
009 APABI200400001491
010 0 $a 7502431861 $d CNY9.60
100 $a 20080324d2003 em y0chiy0121 e
101 0 $a chi
102 $a cn
200 1 $a 現代物理測試技術 $f 梁志德,王福主編 $b 電子資源
204 0 $a 電子資源
210 $a 北京 $c 冶金工業出版社 $d 2003
300 $a 普通高等教育“九五”國家級重點教材
300 $a 需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
330 $a 本書介紹了材料的物理測試技術中廣泛應用的X射線衍射分析、透射電鏡分析以及掃描電鏡及其EBSP分析、中子衍射分析和正受關注的某些表面分析技術。各章後附有適量的習題。
606 $a 測試技術 $j 教材 $x 高等教育 $2 cth $3 1000059300
687 $a TB9 $v 4
700 1 $a 梁志德 $3 1000059298
701 1 $a 王福 $3 1000059299
801 0 $a CN $b 方正APABI $c 20080324}
856 4 $u http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d5024%2d3186%2d1 $z 中華數字書苑--點擊此處查看電子書全文
997 $a ISBN7-5024-3186-1

0 筆讀者評論

館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

OE0039400

線上資料庫

線上資源

線上電子書

OE

一般(Normal)

在架

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

多媒體

評論

新增評論分享你的心得

建立或儲存個人書籤

書目轉出

取書館別

變更密碼

登入