Journal of electronic testing :theor...
IEEE Computer Society., Technical Council on Test Technology.

 

館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
典藏地名稱: 七樓過期期刊區
  • 3 筆 • 頁數 1 •
 
P20340 七樓過期期刊區 不外借 裝訂期刊(西文) *P 621.381548 J86 2011 V.27 N.1- V.27 N.4 一般(Normal) 在架 0
P20341 七樓過期期刊區 不外借 裝訂期刊(西文) *P 621.381548 J86 2011-2012 V.27 N.5- V.28 N.2 一般(Normal) 在架 0
P20342 七樓過期期刊區 不外借 裝訂期刊(西文) *P 621.381548 J86 2012 V.28 N.3- V.28 N.6 一般(Normal) 在架 0
  • 3 筆 • 頁數 1 •
多媒體
評論
建立或儲存個人書籤
書目轉出
取書館別
 
 
變更密碼
登入