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常見雜訊測試與對策

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:	李世興,
出版地:	臺北市
出版者:	全華科技;
出版年:	2001[民90]
版本:	初版
面頁冊數:	[191]面 : 圖,表 ; 24公分
標題:	通訊工程 -
標題:	電磁學 -
附註:	附錄:1,主要的雜訊測定設施;2,雜訊對策相關企業一覽
ISBN:	957-21-3105-2

常見雜訊測試與對策
常見雜訊測試與對策 / 李世興編譯 - 初版. - 臺北市 : 全華科技, 2001[民90]. - [191]面 ; 圖,表 ; 24公分.
附錄:1,主要的雜訊測定設施;2,雜訊對策相關企業一覽.
ISBN 957-21-3105-2
通訊工程電磁學

李, 世興

常見雜訊測試與對策
LDR:00581nam0 2200193 450 001 79880
009 00090239
010 0 $a 957-21-3105-2 $b 平裝 $d NT240
100 $a 20050721d2001 m y0chiy08 e
101 1 $a chi
102 $a tw
105 $a ak z 000yy
200 1 $a 常見雜訊測試與對策 $f 李世興編譯
205 $a 初版
210 $a 臺北市 $c 全華科技 $d 2001[民90]
215 0 $a [191]面 $c 圖,表 $d 24公分
300 $a 附錄:1,主要的雜訊測定設施;2,雜訊對策相關企業一覽
606 $a 通訊工程 $2 csh $3 13029
606 $a 電磁學 $2 csh $3 12038
681 $a 448.7192 $b 4047
702 1 $a 李 $b 世興 $4 編譯 $3 21079
801 0 $a tw $b NKC $c 20050721 $g CCR $m 4
801 1 $a tw $b NKC $c 20050721 $g CCR $m 4

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館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

138084

三樓書庫

一般借閱

圖書

448.7192 4047 90

一般(Normal)

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0

5030000-0940003

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