低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
趙永翔

 

  • 低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : 單行本
    作者: 趙永翔
    出版地: 成都
    出版者: 西南交通大學出版社;
    出版年: 2006
    標題: 低周率運行 -
    電子資源: 中華數字書苑--點擊此處查看電子書全文
    附註: 需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
    摘要註: 本書研究了低周疲勞短裂紋行為和可靠性分析方法,闡明了疲勞短裂紋群體交互作用與損傷演化的機制,揭示了疲勞性能存在隨機性及演化性的本質原因。
    ISBN: 7811042150
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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