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國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究 = A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment

紀錄類型:	書目-電子資源 : 單行本
並列題名:	A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment
作者:	陳慧娟,
其他團體作者:	華藝數位股份有限公司
出版地:	高雄市
出版者:	金屬中心;
出版年:	2016[民105]
版本:	初版
面頁冊數:	96面 : 彩圖, 表
集叢名:	科技專案成果
標題:	半導體工業 -
標題:	技術發展 -
標題:	市場分析 -
電子資源:	點擊此處連結華藝電子書全文
附註:	資料形式:文字
附註:	檢索形式:電子書服務平台
附註:	系統需求:網頁瀏覽器或iRead eBook
附註:	參考書目: 面95-96
ISBN:	9789865662585

國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究 = A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment
陳, 慧娟

國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究 = A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment [電子資源] / 陳慧娟作 - 初版. - 高雄市 : 金屬中心, 2016[民105]. - 96面 ; 彩圖, 表. - (科技專案成果).
資料形式:文字檢索形式:電子書服務平台系統需求:網頁瀏覽器或iRead eBook參考書目: 面95-96.
ISBN 9789865662585
半導體工業技術發展市場分析

國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究 = A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment
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225 1 2 $a 經濟部技術處產業技術知識服務計畫 $v MIRDC-105-S303
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