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半導體封裝與測試工程 : CMOS影像感測器實務(修訂版)

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:	CMOS影像感測器實務(修訂版)
作者:	陳榕庭,
出版地:	臺北縣土城市
出版者:	全華;
出版年:	2007[民96]
版本:	二版
面頁冊數:	1冊 : 圖,表格 ; 23公分+1張光碟
標題:	感測器 -
附註:	附錄:常見CMOS影像感測器各封裝製程缺陷模式
ISBN:	978-957-21-5430-4

半導體封裝與測試工程 : CMOS影像感測器實務(修訂版)
陳, 榕庭

半導體封裝與測試工程 : CMOS影像感測器實務(修訂版) / 陳榕庭編著 - 二版. - 臺北縣土城市 : 全華, 2007[民96]. - 1冊 ; 圖,表格 ; 23公分.
附錄:常見CMOS影像感測器各封裝製程缺陷模式.
ISBN 978-957-21-5430-4
感測器

半導體封裝與測試工程 : CMOS影像感測器實務(修訂版)
LDR:00670nam0 2200205 450 001 115822
005 20141104123304.0
009 00133322
010 0 $a 978-957-21-5430-4 $b 平裝 $d NT350
100 $a 20071124d2007 k y0chiy08 e
101 0 $a chi
102 $a tw
105 $a ak z 000yy
200 1 $a 半導體封裝與測試工程 $e CMOS影像感測器實務(修訂版) $f 陳榕庭編著
205 $a 二版
210 $a 臺北縣土城市 $c 全華 $d 2007[民96]
215 0 $a 1冊 $c 圖,表格 $d 23公分 $e 1張光碟
300 $a 附錄:常見CMOS影像感測器各封裝製程缺陷模式
606 $a 感測器 $2 csh $3 3276
681 $a 440.121 $b 7540
700 1 $a 陳 $b 榕庭 $4 編著 $3 84951
801 0 $a tw $b 南開 $c 20071124 $g CCR $m 4
801 1 $a tw $b 南開 $c 20071124 $g CCR $m 4

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館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

195179

三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books)

一般借閱

圖書

440.121 7540 96

一般(Normal)

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