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雷射光束在干涉儀內的特性參數研究

~

鄧恢綱

雷射光束在干涉儀內的特性參數研究

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	陳冠慧,
其他作者:	鄧恢綱,
出版地:	[南投縣]
出版者:	南開科技大學電機資訊研究所;
出版年:	民98[2009]
面頁冊數:	22面 : 圖,表 ; 31公分+1張光碟
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/dx2drj
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/w7rf74
附註:	參考書目: 面22
附註:	指導教授:鄧恢綱
摘要註:	干涉術藉由偵測光波干涉後的能量變化，以獲得相位變化的訊息；而訊號雜訊比決定干涉系統的良窳，本論文在提升訊號雜訊比前提下，探討雷射光束在干涉儀內的特性參數變化，並計算感光二極體在雷射光經透鏡聚焦後的最佳放置範圍，與雷射光束入射到感光二極體的最佳截面半徑，並供以後學術研究的參考。

雷射光束在干涉儀內的特性參數研究
陳, 冠慧

雷射光束在干涉儀內的特性參數研究 / 陳冠慧 - [南投縣] : 南開科技大學電機資訊研究所, 民98[2009]. - 22面 ; 圖,表 ; 31公分.
參考書目: 面22指導教授:鄧恢綱.

鄧, 恢綱

雷射光束在干涉儀內的特性參數研究
LDR:01186nam0 2200253 450 001 121289
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300 $a 參考書目: 面22
300 $a 指導教授:鄧恢綱
328 $a 碩士論文--南開科技大學電機資訊研究所
330 $a 干涉術藉由偵測光波干涉後的能量變化，以獲得相位變化的訊息；而訊號雜訊比決定干涉系統的良窳，本論文在提升訊號雜訊比前提下，探討雷射光束在干涉儀內的特性參數變化，並計算感光二極體在雷射光經透鏡聚焦後的最佳放置範圍，與雷射光束入射到感光二極體的最佳截面半徑，並供以後學術研究的參考。
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