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半導體IC產品可靠度 = Reliability in semiconductor IC products : 統計、物理與工程
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Reliability in semiconductor IC products
副題名:
統計、物理與工程
作者:
傅寬裕,
出版地:
臺北市
出版者:
五南;
出版年:
2011[民100]
版本:
二版
面頁冊數:
[6],262面 : 部份彩圖,表格 ; 23公分
集叢名:
光電科技與能源系列叢書5DB5
標題:
積體電路 -
標題:
半導體 -
附註:
含參考書目及索引
附註:
附錄:元素週期表等5種
ISBN:
978-957-11-6074-0
半導體IC產品可靠度 = Reliability in semiconductor IC products : 統計、物理與工程
傅, 寬裕
半導體IC產品可靠度
= Reliability in semiconductor IC products : 統計、物理與工程 / 傅寬裕著 - 二版. - 臺北市 : 五南, 2011[民100]. - [6],262面 ; 部份彩圖,表格 ; 23公分. - (光電科技與能源系列叢書 ; 5DB5).
含參考書目及索引附錄:元素週期表等5種.
ISBN 978-957-11-6074-0
積體電路半導體
半導體IC產品可靠度 = Reliability in semiconductor IC products : 統計、物理與工程
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全部
三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books)
出版年:
卷號:
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