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專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Theories in patent infringement assessment
作者:
洪瑞章,
出版地:
臺北市
出版者:
經濟部智慧局;
出版年:
2009[民98]三刷
版本:
二版
面頁冊數:
[8],176面 : 圖 ; 21公分
集叢名:
智慧財產培訓學院教材16
標題:
專利 - 法規論述 -
附註:
參考書目: 面171-173
附註:
附錄:1,鑑定基準原採之侵害鑑定流程;2,鑑定要點之證明或新型專利侵害鑑定流程圖
ISBN:
978-986-00-7696-7
專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
洪, 瑞章
專利侵害鑑定理論
= Theories in patent infringement assessment / 洪瑞章編著 - 二版. - 臺北市 : 經濟部智慧局, 2009[民98]三刷. - [8],176面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 16).
參考書目: 面171-173附錄:1,鑑定基準原採之侵害鑑定流程;2,鑑定要點之證明或新型專利侵害鑑定流程圖.
ISBN 978-986-00-7696-7
專利 -- 法規論述
專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
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館藏地:
全部
三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books)
出版年:
卷號:
館藏
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