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專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Theories in patent infringement assessment
作者:	洪瑞章,
出版地:	臺北市
出版者:	經濟部智慧局;
出版年:	2009[民98]三刷
版本:	二版
面頁冊數:	[8],176面 : 圖 ; 21公分
集叢名:	智慧財產培訓學院教材16
標題:	專利 - 法規論述 -
附註:	參考書目: 面171-173
附註:	附錄:1,鑑定基準原採之侵害鑑定流程;2,鑑定要點之證明或新型專利侵害鑑定流程圖
ISBN:	978-986-00-7696-7

專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
洪, 瑞章

專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment / 洪瑞章編著 - 二版. - 臺北市 : 經濟部智慧局, 2009[民98]三刷. - [8],176面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 16).
參考書目: 面171-173附錄:1,鑑定基準原採之侵害鑑定流程;2,鑑定要點之證明或新型專利侵害鑑定流程圖.
ISBN 978-986-00-7696-7
專利 -- 法規論述

專利侵害鑑定理論 = Theories in patent infringement assessment
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館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

203541

三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books)

一般借閱

圖書

440.6 8560 98 v.16

一般(Normal)

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0

5030000-1010019

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