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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...
~
汪島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Patent analysis of atomic force microscope
作者:
汪島軍,
出版地:
臺北市
出版者:
行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:
民93
版本:
第一版
面頁冊數:
[9],125面 : 部分彩圖,表格 ; 30公分
集叢名:
奈米科技專利研究系列第8輯
標題:
電子顯微鏡 -
標題:
奈米技術 -
附註:
部分內容為英文
附註:
參考書目:面63
附註:
附錄:1.AFM專利摘要表;2.AFM系統整體技術群聚專利引用關係(群聚A)
ISBN:
957-619-117-3
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析
= Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 民93. - [9],125面 ; 部分彩圖,表格 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 第8輯).
部分內容為英文參考書目:面63附錄:1.AFM專利摘要表;2.AFM系統整體技術群聚專利引用關係(群聚A).
ISBN 957-619-117-3
電子顯微鏡奈米技術
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
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館藏地:
全部
三樓書庫(3rd Floor-Chinese Books)
出版年:
卷號:
館藏
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